Offres de thèses, stages et postdocs
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[Stage]
Croissance Epitaxiale de Nanofils GaN par Dépôt Chimique en Phase Vapeur (CVD) pour application LEDs
Offre N° : 5714
Cadre du travail
Cette proposition de stage s'inscrit dans le cadre du développement, au sein du département optronique du LETI, d'une activité liée à l'éclairage à l'état solide par LEDs.
Cadre du travail
Cette proposition de stage s'inscrit dans le cadre du développement, au sein du département optronique du LETI, d'une activité liée à l'éclairage à l'état solide par LEDs.
Les thèmes d'étude qui sont couverts par cette activité concernent l'ensemble de la filière, de la croissance de matériau sous forme de nanofils à la technologie et à la caractérisation des diodes
Une des voies retenues pour développer des LEDs plus efficaces que la technologie actuelle est basée sur les quelques concepts suivants :
- Un substrat silicium qui présente par rapport à la technologie usuelle sur saphir, un intérêt de coût, d'accessibilité aux grandes surfaces et plusieurs autres avantages liés à la technologie des diodes.
- Une couche active élaborée sous forme de nanofils, dont les principaux avantages sont, entre autres, une très bonne qualité cristalline sans présence de défauts, une meilleure extraction des photons, un accès à une grande variété de substrat...
- Le matériau GaN et ces alliages (GaInN, GaAlN) qui sont déjà largement utilisés pour la fabrication de LEDs, en raison de leur gap direct et dont la largeur de bande est modulable en énergie.
Cette étude s'appuie sur des moyens propres mis en place au LETI et à Minatec et sur de nombreuses collaborations en particulier à l'INAC (Institut Nanosciences et Cryogénie du CEA)
Le Laboratoire d’Electronique et de Technologie de l’Information (LETI), est l’un des principaux centres européens de recherche appliquée en électronique. Son activité est consacrée à plus de 85 % à des recherches finalisées avec des partenaires extérieurs.
Travail demandé
Le sujet proposé aura pour thème général l’élaboration par Dépôt Chimique en Phase Vapeur (CVD) de nanofils de GaN sur substrat silicium.
Un premier objectif concernera la croissance auto-organisée de nanofils GaN. Une étude d'optimisation des conditions de croissance et de compréhension des mécanismes qui contrôlent la morphologie, la cinétique et les qualités structurales et optiques des nanofils, constituera la partie centrale de ce travail.
Un deuxième objectif concernera la croissance organisée de nanofils GaN. La méthode choisie est la croissance sélective (Selected Area Growth, SAG) qui utilise un masque de croissance sélectif pour contrôler la position et la taille des nanofils.
Une partie importante du travail concernera les caractérisations morphologiques, structurales et optiques des couches épitaxiales. Des techniques telles que la microscopie électronique par balayage et la photoluminescence, seront utilisées par le stagiaire.
D'autres techniques, telles que l’analyse par diffraction X, le SIMS, la microscopie électronique en transmission, disponibles dans le département ou à travers des collaborations, serviront à l’optimisation des procédés de croissance.
Profil
Le candidat, de formation ingénieur ou universitaire, devra régulièrement présenter l’avancement de ses travaux au sein de l’équipe projet, en faisant preuve d’une bonne capacité d’intégration.
Modalités pratiques
Le candidat devra envoyer un CV détaillé et une lettre de motivation au responsable technique.
La date prévisionnelle de début de contrat est mars 2011.
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[Stage]
Caractérisation de CdZnTe massif : comptage de défauts.
Offre N° : 5713
Cadre du stage :
Le stage sera mené dans une équipe chargée de la préparation de lingots monocristallins de CdZnTe, puis de substrats tirés de ces lingots, pour des applications en optoélectronique.
Cadre du stage :
Le stage sera mené dans une équipe chargée de la préparation de lingots monocristallins de CdZnTe, puis de substrats tirés de ces lingots, pour des applications en optoélectronique.
Dans le cadre de l'amélioration et du contrôle du procédé de préparation de ces substrats, des moyens de caractérisation sont nécessaires, parmi lesquels le comptage de défauts ponctuels par des techniques de microscopie en transmission infrarouge, au sein du matériau. Des techniques de diffraction de rayons X , type imagerie de topographie de rayons X pourront être évaluer pour corréler la présence de ces défauts sur la qualité cristalline du matériau.
Travail demandé :
Le laboratoire dispose d'un logiciel de comptage de défauts. A l'aide de ce logiciel, il faudra développer un protocole opératoire pour automatiser le comptage des défauts de type précipités présents dans les substrats de CdZnTe.
En fonction de l'état d'avancement des recherches dans le laboratoire au début du stage, le travail demandé concernera la mise en place de l'automatisation du comptage de défauts, la mesure d'échantillons de différentes origines, la comparaison et la mise en forme des résultats.
La rédaction de documents opératoires pourra clore cette partie du stage.
La topographie de rayons X qui est développé sur d'autres matériaux sera mis en pratique sur le matériau CdZnTe étudiéau cours de ce stage et son intérêt pratique sera évalué
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[Stage]
étude du dopage arsenic de couches CdHgTe réalisées par épitaxie par jets moléculaires, application à la détection infra-rouge.
Offre N° : 5712
Cadre du stage :
Le laboratoire Infrarouge (LIR) du CEA-Leti est le laboratoire français de référence pour le développement de détecteurs infrarouges de nouvelle génération à base de CdHgTe. La technique d'épitaxie par jets moléculaires est utilisée pour ses capacités à produire des empilements semi-conducteurs complèxes, pour lesquels la composition d'alliage ainsi que le dopage varient de manière contrôlée. Aujourd'hui, le dopage de type n des couches lors de la croissance est très bien maîtrisé. Par contre, le dopage de type p (accepteurs) est en cours de développement au laboratoire. La maîtrise du dopage p devient indispensable pour la réalisation des photodétecteurs dits de troisième génération, notamment pour réaliser les dipositifs pour lesquels la rapidité de détection est primordiale.
La réalisation de couches dopées de type p est envisagée via l'incorporation d'atomes d'arsenic dans la maille cristalline de CdHgTe. Nous disposons au laboratoire de deux sources d'arsenic différentes permettant de générer l'arsenic sous des formes élémentaires ou polymérisées. Après croissance, des recuits thermiques seront nécessaires pour activer le dopant, c'est à dire placer les atomes d'arsenic sur un site du réseau cristallin sur lequel ces atomes d'arsenic se comportent comme des accepteurs.
Le stage aura lieu au sein de l'équipe "épitaxie par jets moléculaires II-VI" (EJM 2-6) du Laboratoire des Matériaux Semiconducteur (LMS) du STM. Le sujet de stage est en relation avec un industriel : SOFRADIR.
Travail demandé :
L'étudiant devra participer à l'élaboration des couches par épitaxie par jets moléculaires et analyser l'impact des paramètres de croissance (vitesse, composition, température, dopage, type de cellule arsenic) sur le matériau. Pour ce faire il aura à disposition plusieurs techniques de caractérisation (transmission infrarouge, ellipsométrie spectroscopique, diffraction X, microscopie optique). De plus, l'étudiant sera amené à utiliser les compétences du service de caractérisation du Leti pour réaliser des analyses plus poussées sur nos empilements : SIMS, diffraction X haute résolution.
Enfin, l'étudiant réalisera des recuits afin d'activer l'arsenic. Ces recuits seront suivis d'analyses de structure (SIMS, diffraction X) et surtout de mesures électriques qui devront permettre de qualifier les empilements du point de vue des propriétés de transport (mobilités des porteurs) et du taux d'activation atteint pour le dopant considéré. Le but de ce stage est de caractériser de manière la plus complète possible les empilements de HgCdTe dopés à l'arsenic et de synthétiser ces informations de façon à dégager des éléments permettant de statuer sur l'intérêt d'une source plutôt qu'une autre. Cette analyse se fera selon des critères de contrôle du dopage, d'homogénéité et de potentiel d'industrialisation.
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[Stage]
Croissance de monocristaux de ZnO par une méthode de sublimation assistée chimiquement (CVT)
Offre N° : 5711
Cadre du stage :
Ce travail de fin d'étude Master s’inscrit dans une action générique « éclairage à l'état solide» au niveau du département Optronique du LETI (LETI/DOPT). Il vise à l'élaboration de Diodes Electro-Luminescentes (DEL) à base de ZnO (semi-conducteur II-VI à gap direct). Dans ce cadre le sujet du stage est inscrit plus particulièrement dans la thématique « élaboration du substrat ZnO». Le laboratoire développe une méthode originale de croissance cristalline permettant d'élaborer des cristaux massifs de ZnO par une voie sublimation-condensation. L'obtention de cristaux de bonne qualité structurale, de grand diamètre, avec un dopage contrôlé représente l'objectif de notre action............................................................................................
Travail demandé :
Au sein de l'équipe croissance de ZnO, le(a) candidtat(e) issu d'un master ou d'une formation universitaire aura en charge une partie des caractérisations physiques et structurales que nous réalisons sur les substrats de ZnO issus des croissances par une méthode de sublimation assistée chimiquement. En effet il sera intéressant de corréler les mesures des taux de dislocations mésurées par topographie des rayons X, aux mesures de figures d'attaque (Etch pits density) ainsi qu'aux images réalisées par cathodo-luminescence (CL). L'analyse de ses mesures en relation avec l'orientation cristalline des substrats (plans polaires (0001) et non polaires( (10-10) et (11-20) ) permettra de déterminer l'influence de ces types de défauts sur les propriétés de luminescence et de comparer sur ces critères les substrats de ZnO issus de la CVT aux substrats commerciaux issus d'autres méthodes d'élaboration. Une fois l'apprôche validée, une partie du travail portera sur les alliages Zn1-xMgxO (0<= x <=0.2). Après le travail d'élaboration du matériau massif, la procédure définie pour ZnO sera adaptée pour l'alliage Zn1-xMgxO. Les résultats seront comparés aux couches élaborées au sein du département par OMVPE (Organo-Métallic Vapour Phase Epitaxy). Le candidat, de formation ingénieur ou universitaire ayant de solides connaissances en physique des semi-conducteurs devra régulièrement présenter l’avancement de ses travaux au sein de l’équipe projet. Il devra être rigoureux et faire preuve d’une bonne capacité d’intégration.
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